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NFA100-E閃存測試儀

Nand Flash 閃存 閃存測試儀 Nand Flash分析 領存

NFA100-E是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統,它最大限度地滿足用戶的對於Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求。 1. NFA100-E最大限度地提供NAND的各種原始信息。 對NAND的原始信息只能通過對NAND發送各種命令,同時讀取返回的結果來判斷,NFA100-E除了可以發送擦除、寫入、讀取、重置、獲取ID等簡單的命令外,還能發送諸如set feature/get feature等命令,可以很容易實現Nand Flash的諸如ReadRetry(RR)等方面的測試。 NFA100還能發送用戶自定義的command (1-byte command),可支持於客戶的一些特殊測試。

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NFA100-E有什麽用途

NFA100-E是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統,它最大限度地滿足用戶的對於Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求。

1. NFA100-E最大限度地提供NAND的各種原始信息。

對NAND的原始信息只能通過對NAND發送各種命令,同時讀取返回的結果來判斷,NFA100-E除了可以發送擦除、寫入、讀取、重置、獲取ID等簡單的命令外,還能發送諸如set feature/get feature等命令,可以很容易實現Nand Flash的諸如ReadRetry(RR)等方面的測試。
NFA100還能發送用戶自定義的command (1-byte command),可支持於客戶的一些特殊測試。

2. 有能力對各種原始信息進行再處理

NFA100-E有很強的對原始信息的再處理能力,瑞耐斯也可以開發各種算法為客戶提供建議或者定制服務。比如壞塊掃描和管理、Nand Flash等級篩選等。

NFA100-E為客戶提供了一個完全開放的平臺,非常方便客戶自行按照自己的需求設計各種測試。

NFA100-E支持所有主流Nand Flash,對於非主流Nand Flash,可以根據客戶Datasheet進行添加功能,使之支持。

面向對象

NFA100-E主要面向:企業閃存控制開發人員、高校教授及碩士、博士進行閃存研究、以及各種特殊單位進行閃存的安全性、可靠×××的研發人員。

技術指標

1、支持最新制程3D TLC,3D MLC,1x nm以及25nm,34nm,56nm制程Nand Flash;

2、支持SLC,MLC,TLC,eMLC;

3、支持8位和16位異步Flash;

4、支持同步,Toggle Flash;

5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk,Hynix廠商所有常規Nand Flash;

6、支持TSOP48,BGA63,BGA100,BGA132,BGA152封裝;

7、可以定制開發非常規封裝、自定義封裝Nand Flash。

性能指標

1、通過USB2.0接口測試設備內部連接工控電腦,計算由測試主板FPGA完成,對工控電腦資源消耗極低,USB2.0僅僅是將計算結果反饋給軟件,因此不會對性能產生任何影響;

2、測試效率主要取決於所需要測試Nand Flash的接口性能以及所需測試項目的內容,如:測試P/E cycle,所需時間完全取決於測試Block數量、測試pattern,及Nand Flash接口的性能。

聯絡方式:

Email:lcb@storlead.com


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