硬擊穿是一次性造成器件的永久性失效，如器件的輸出與輸入開路或短路（二極管硬擊穿幾乎為短路）。

　　軟擊穿則可使器件的性能劣化，並使其指標參數降低而造成故障隱患。由於軟擊穿可使電路時好時壞(指標參數降低所致，如萬用表測試肖特基二極管，會有顯示相對正常的阻值，但專業肖特基二極管測試儀會發現其VB（耐壓）本來1000V的耐壓已衰降至100V左右，如下圖所示)，且不易被發現，給整機運行和查找故障造成很大麻煩。

　　軟擊穿時裝備仍能帶病工作，性能未發生根本變化，但隨時可能造成再次失效。多次軟擊穿就能造成硬擊穿，使電子裝備運行不正常。不僅IC、肖特基二極管、三極管會發生軟擊穿，電容器也會發生軟擊穿：電容兩端的電荷，隨著通電時間的增長，積累到一定程度之後，如果電容的質量不好，內部的電解質發生變化而產生的一種電容擊穿短路現象，它與溫度的高低並無直接的關系。關機後電容失去外加電壓，自然放電完畢後電解質可暫時復原，容量也可恢復正常。

　　在一些特定的情況下肖特基二極管的特性變壞，比如電壓比較高時（還沒到真正的擊穿電壓），或溫度較高等等。用萬用表測量不出來性能已經變壞，但是裝在電路上卻不能正常工作。另外一種就是輕微擊穿。比如肖特基二極管，用萬用表測試，其反向電阻變小，有漏電現象。又比如電視機的行輸出肖特基二極管發生軟擊穿時，將導致陽極高壓上不去，產生圖象暗淡、散焦等現象。

　　軟擊穿主要是由於器件的使用時間過長或是長期工作在惡劣條件下老化而產生的。一般應予以更換，擊穿時PN結的溫度上升，如果還沒有破壞PN結的結構，則造成擊穿的條件去除後，PN結的功能能夠得到恢復或部分恢復，就可認為不是硬擊穿或稱為軟擊穿。若溫度上升太高，PN結的結構完全破壞，擊穿的條件去除後，PN結的功能就不能得到恢復，這種擊穿稱為硬擊穿（如下圖肖特基二極管芯片為大電流擊穿後的圖像）。硬擊穿的肖特基二極管不能正常工作，通常說燒壞了，需要更換。出現軟擊穿的肖特基二極管，性能也已經下降很多，一般也應該進行更換，但應急情況下還可暫時堅持工作，只是隨時都可能變成硬擊穿而完全不能工作。

揭秘什麽是肖特基二極管的軟擊穿？