1、GD32採用ADC同步注入方式時，需要同時配置ADC1和ADC2；

但是隻有當ADC時鐘分頻為6時，才可以執行；大於分頻6時，程式會卡死在ADC_GetBitState(ADC1,ADC_FLAG_EOIC)中；

2、ADC1和ADC2同步注入時，出現ADC2通道的取樣值一直為零。 

需要同時對ADC1和ADC2同時都配置，才能夠取樣的。（再對硬體板子重新焊接之後就好了）

2.1 利用TIM1的TRGO觸犯ADC的取樣，TIMER_RepetitionCounter引數設定為1，但是實際觸發頻率是3個PWM觸發一次ADC取樣

實際測試條件：內部時鐘64MHZ，ADC時鐘6分頻（對應的ADC的時鐘頻率不為整數），TIM1不分頻；

       問題解決：改變ADC的時鐘頻率，使得其為整數，即可實現一次PWM週期觸發ADC取樣一次；

2.2 關於利用TIM1的TRGO和CH4通道觸發ADC的同步取樣，有時候會出現不能觸發取樣的問題（ADC->STR = 0X0012）

1）利用TRGO觸發ADC取樣

TIM1分頻為8、1和0，ADC分頻為4；------仍然會出現有時候不能觸發ADC取樣的問題

2）利用CH4通道觸發

TIM1分頻為0，ADC分頻為4；------仍然會出現有時候不能觸發ADC取樣的問題

TIM1分頻為8和1，ADC分頻為4；------不會出現該問題

3、GPIO_DeInit(GPIOB);函式初始化，只能在第一次使用，如果在初始化相關的IO口，再次使用GPIO_DeInit（GPIOB）該函式，會導致之前配置的IO出現問題。

4、GD32的串列埠配置加上ADC配置之後的函式，容易出現ORE過載錯誤，導致無法進入中斷。

USART_DataSend(USART3, *Data++);
while(USART_GetBitState(USART3, USART_FLAG_TC)==ERROR){}；順序改為這個就可以正常傳送資料了。

5、注意bool型別的定義，否則會導致定義的變數數值不對。

6、讀取Hall訊號的IO口時，發現輸入IO口的訊號存在中間階梯的情況，導致讀取訊號不對

晶片引腳虛焊導致的該問題。

7、同樣的簡單測試程式GD32和ST32完全相容的晶片移植時，需要重新選擇晶片配置（在主選單中開啟Flash->Configure Falsh Tools配置視窗，切換到“Utilities"頁。

8、GD32F130C8T6和GD32F103C8T6的區別---20171013

1）二者開發時，所用的韌體開發庫是不一樣的()。

        2）晶片的時鐘頻率（48MHZ和108MHZ）也不一樣，Flash和SRAM大小也不一樣；

3）晶片的引腳35、36不一樣（F130：PF6、PF7【I2C2_SCL、I2C2_SDA】;F103：VSS2、VDD2）

4）晶片的引腳2、10複用的功能不一樣的

5）F130中含有1個ADC，最多隻能取樣4路；F103中含有2個ADC，最多隻能取樣8路；