問題描述
有n（2≤n≤20）塊晶片，有好有壞，已知好晶片比壞晶片多。
每個晶片都能用來測試其他晶片。用好晶片測試其他晶片時，能正確給出被測試晶片是好還是壞。而用壞晶片測試其他晶片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試晶片實際的好壞無關）。
給出所有晶片的測試結果，問哪些晶片是好晶片。
輸入格式
輸入資料第一行為一個整數n，表示晶片個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個資料為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的資料表示用第i塊晶片測試第j塊晶片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該晶片對本身的測試結果。晶片不能對本身進行測試）。

package base23;

import java.util.Scanner;

public class Main {
    public static void main(String[] args) {
        Scanner in = new Scanner(System.in);
        int n = in.nextInt();
        int[][] test = new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                test[i][j] = in.nextInt();
            }
        }
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            int count = 0;
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                if (i != j)
                    count += test[j][i];
            }
            if (count >= n / 2)
                System.out.print(i + 1 + " ");
        }

    }
}