DFT   --  design  for  test 

三要素：輔助性設計， physical defects   結構性測試向量   

是一種輔助性設計，利用這種輔助性設計 對根據 physical  defects  建立的 fault  model 進行求解產生的結構性測試向量，

這些結構性測試向量用於檢測製造出來晶片的能否正常工作。

scan  chain  包含兩個步驟： scan replacement   scan stitching  

scan chain （synthsis）作用 ：把 difficult to test  sequential circuit  轉換為 easy to test  combinationl circuit 。

上圖所示，首先是 替換  然後是連線 組成一條 scan  鏈

完整的 scan  chain過程：

1。 對於時序電路 sequential 部分，選擇scan mode ，shift in pattern ， 然後shift out

2.   對於組合電路combinational 部分，首先選擇scan mode , shift in  pattern ，直接輸入

pi 的值，選擇function mode ，經過一段時間以後， PPO PO 都穩定了，先比較PO 的值，

再來一個時鐘週期，capture  ppo 的值，選擇scan mode ，shift  out   PPO 的值

然後下一條 pattern