10M高速光耦測試方法

阿新 • • 發佈：2019-01-06

代表型號：6N137

1. 確定被測光耦型別

6N137屬於輸出端屬於邏輯閘，故測試它在觸發後輸出的低電平VOL是否為OK

2. 測試線連線

測試原理圖

由下圖可以看出，測試6N137需要用到2個電流源和一個電壓源，此處我並沒有在8腳跟5腳處接一個0.1uF的去耦電容，後續如果想測試它的IFT時這個電容是必須要加上的。

測試連線實物圖：

連線說明
二	連	2
一	連	3
六	連	8
四	連	5
五	連	6
紅筆	連	6
黑筆	連	5

3. 引數設定

訊號發生器：左通道 10mA，右通道電壓輸出5V，電流輸出10mA

萬用表：直流2V檔位

4. 進行測試

放入材料

5. 判定標準

由下圖我們可以看出，電壓小於0.6V即為 OK

測試例項：

以6N137為例，測試條件輸入端IF=10mA，輸出端IO=10mA，VCC=5V

我們可以看到，實際測試值VOL為0.3V 小於0.6V，故判斷為OK

10M高速光耦測試方法

代表型號：6N137 1. 確定被測光耦型別 6N137屬於輸出端屬於邏輯閘，故測試它在觸發後輸出的低電平VOL是否為OK 2. 測試線連線測試原理圖由下圖可以看出，測試6N137需要用到2個電流源和一個電壓源，此處我並沒有在8腳跟5腳處接一個0.1uF

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