光耦全稱光耦合器（opticalcoupler），它是以光為媒介來傳輸電訊號的器件，輸入與輸出之間除了光束外無其它任何連線，完全隔離。在數位電路應用廣泛。

根據輸出型別一般有如下幾類：電晶體輸出、高速積體電路輸出、三端雙向可控矽輸出和光控繼電器。在電路設計中以電晶體輸出和高速積體電路輸出使用居多，本次測試的光耦選用這兩類為樣品。

光耦的響應頻率與光耦的開啟關閉速度即上升沿與下降沿時間有關，其中上升沿與光耦的輸入電流有關，輸入電流越大，上升沿越短。下降沿與光耦的輸出負載有關，負載越重電流釋放越快，下降沿也越長。

本測試使用的電路如下：

圖1

輸入訊號由FPGA提供，高電平3.3V，輸出為24V系統。考慮到光耦輸入很多是由微控制器之類的提供，其驅動電流有限，最大的也就十幾毫安，因此測試是選用10mA的輸入電流，因不同光耦的壓降不同，需通過可調電位器R2進行微調。一般電晶體輸出（不包括達林頓輸出，關於該型別光耦後文有討論）的光耦輸出電流可到50mA，在測試中我們在輸出端串上一隻1k的電阻，然後施加24V的電壓，此時的負載電流約23mA，接近標稱值的一半。

測試樣品：TLP521-1,PS2801-1,PS2805-1,TLP127,TLP181,HCPL0601

測試使用頻率分檔：40M、20M、10M、8M、6.15M、4M、2M、1M、800K、615K、400K、200K、100K、80K、61.5K、40K、20K、10K、8K、6.15K、4K、2K、1K

測試結果：

測試過程中的截圖如下