題目描述

將2片晶片(A和B)置於測試臺上，互相進行測試，測試報告是“好”或“壞”，只取其一。假設好晶片的報告一定是正確的，壞晶片的報告是不確定的(可能會出錯）。輸入n片晶片，其中好晶片至少比壞晶片多1片。設計一種測試方法，通過測試從n片晶片中挑出1片好晶片。

輸入

第一行是一個整數n，表示晶片數。
第二行是n個整數，表示晶片“好”或“壞”的整數(任意整數，不一定是1或0)。

輸出

好晶片的編號(從1開始計)。

樣例輸入

7
1 1 1 1 0 0 0

樣例輸出

1

程式碼

#include <stdio.h>

void chiptest(int arr[], int n) {
	int
 
 i, j, k;
	int a[10];
	for (i = 0; i < n; i++) {
		a[i] = i + 1;
	}
	k = n;
	while (k > 3) {
		j = 0;
		for (i = 0; i < k / 2; i++) {
			if (arr[2 * i] == arr[2 * i + 1]) {
				arr[j] = arr[2 * i];
				a[j] = a[2 * i];
				j++;
			}
		}
		if (k % 2) {
			arr[j] = arr[k - 1];
			a[j] = k;
			k = j +
 
 1;
		}
		else {
			k = j;
		}
	}
	if (k == 3) {
		if (arr[0] != arr[1]) {
			a[0] = a[2];
		}
		else if (arr[1] != arr[2]) {
			a[0] = a[0];
		}
		else if (arr[0] != arr[2]) {
			a[0] = a[1];
		}
		printf("%d", a[0]);
	}
	else if (k == 2 || k == 1) {
		printf("%d", a[0]);
	}
}


int main
 
() {
	int n, i, cp[40];
	scanf("%d", &n);
	for (i = 0; i < n; i++) {
		scanf("%d", &cp[i]);
	}
	chiptest(cp, n);
	return 0;
}

測試 And 結果