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中科院紫金山天文臺揭示銀河系分子氣體厚盤性質

5 月 3 日訊息據中國科學院網站,基於大尺度高靈敏度的 CO 分子譜線巡天資料,中國科學院紫金山天文臺銀河畫卷科學團隊對內銀河系近 400 平方度的分子氣體展開分析。

通過對切點附近的分子云進行系統的認證和分析,清晰地描繪了一個分子氣體厚盤的存在,其厚度約 280pc。根據測量,內銀河系分子氣體厚盤的總質量達到 8.5x107 太陽質量,是該區域內銀盤分子氣體總質量的 10% 左右。

▲背景為銀河系 21cm(HI4PI 巡天)全天輻射,陰影部分表示標高為 85pc 和 280pc 的已知的分子氣體薄盤和新發現的分子厚盤。銀河畫卷巡天新確認的分子厚盤的厚度與原子氣體盤的厚度相當。分子氣體厚盤成分與原子氣體分佈緊密相關 | 圖源:中國科學院網站

據介紹,觀測發現,分子厚盤由許多獨立、闇弱、非引力束縛的小尺寸分子云組成。新測量的分子厚盤的標高與此前已知的原子氣體盤的標高相當,盤內分子云的速度彌散與薄盤分子云相當。通過對這些分子云樣本進行分析後發現,雲 - 雲之間的速度彌散隨著銀心距的增加而系統性地減小。由此認為,分子氣體的分佈受到不同銀心距處恆星形成活動的調製,厚盤的分子氣體可能起源於銀盤,盤面上恆星活動的劇烈物理過程造成分子氣體分佈的脫偶。

瞭解到,相關研究成果發表在 ApJ 上。(論文連結:點此檢視