把掃描路徑法擴充套件到整個板級或系統級，此即邊界掃描法（boundary scan）。邊界掃描法是把掃描路徑法擴充套件到整個板級或系統級，同掃描路徑法類似，基於邊界掃描設計法的元器件的

所有與外部交換的資訊（指令、測試資料和測試結果）都採用序列通訊方式，允許測試指令及相關的測試資料序列送給元器件，然後允許把測試指令的執行結果從元器件序列讀出。

一，邊界掃描法的基本結構

1，測試存取通道的訊號

TAP 包含3個輸入訊號，TDI, TSM, TCK和輸出訊號TDO，如果TAP不能復位，還需要TRST。

1，TCK， 測試資料的序列移入或移出，也可以在元件正常工作下並行移入

2，TMS，測試邏輯在TCK 的上升沿取樣TMS 傳輸的訊號值，因此最好在TCK 的下降沿把TMS改變為下一個要傳輸的值。

3， TDI， 以序列方式移入輸入資料，供指令暫存器譯碼的指令資料和傳輸到DR的測試資料，採用TCK的上升沿

4，TDO， 以序列方式移出資料，供指令暫存器IR譯碼的指令資料；傳輸到測試資料暫存器的測試資料

5，TRST

2，TAP控制器

1，測試邏輯復位

2，執行-測試空閒

只要TMS為低電平，TAP就屬於這個狀態

3， 選擇資料暫存器掃描

當TAP處於select DR時，TMS保持為低就進入捕獲資料狀態；如果TMS保持為高電平，TAP就會進入 select IR狀態

4，select IR scan

當tap處於select IR.如果TMS保持為低電平，，TAP就會進入捕獲指令狀態，否則進入測試邏輯復位狀態

5，捕獲資料暫存器

6，資料暫存器移位

7，資料鎖存器重新整理

當TAP控制器處於“資料鎖存器重新整理狀態”，在TCK的下降沿把資料從移位暫存器路徑鎖存到並行輸出上

當TAP控制器處於”資料鎖存器重新整理“狀態、TCK上出現上升沿時，如果TMS保持為高電平，TAP就會進入到“選擇資料暫存器掃描“狀態，如果保持為低電平，就TAP就進入執行空閒狀態

8， 捕獲指令暫存器

9， 指令暫存器移位

10，指令暫存器重新整理

11，退出

無論是指令流程還是資料流程，都有兩個退出狀態

12，暫停

暫停方式用於協調測試時鐘和系統時鐘。tap控制器處於“暫停狀態”，暫存器的狀態保持不變，可利用系統時鐘操作。

三，控制器的操作

1，TAP只能在響應下列事件後才改變狀態

• • • TCK的上升沿
    • TRST的訊號轉換到邏輯0
    • 上電

2， TAP分為DR掃描和IR掃描

四，指令暫存器

五，測試資料暫存器

測試資料暫存器至少包含兩種資料暫存器：旁路暫存器和邊界掃描暫存器，第三種暫存器器件標誌暫存器是可選的

1，旁路暫存器

旁路暫存器提供的序列連線只有一位，可以將當前不進行測試的IC的掃描鏈短接起來，使得TDI和TDO之間的掃描路徑最短化

2，邊界掃描暫存器

邊界掃描暫存器有四種功能：

• • • 器件外電路的測試。如IC之間互聯的測試，外部測試指令“EXTEST”的外部器件測試
    • 器件內嵌的內建自測試，採用內測試指令INTEST
    • 輸入輸出訊號的取樣和移位檢查
    • 當掃描路徑處於空閒時，對原形設計沒有影響

3，器件識別符號暫存器

六，指令

TAP控制器使用的指令分為兩類。一類是公用指令，一類是專用指令

公用指令包括強選指令和可選指令。強選指令：旁路指令（BYPASS）、取樣指令（SAMPLE）、預裝指令（PRELOAD）和外測試指令（EXTEST）

可選指令：內測試指令（INTEST）、執行內建自測試指令（RUNBIST）、取器件標誌指令（IDCODE）和使用者編碼指令（USERCODE）。此外還有兩個可選擇的指令：元件指令（CLAMP）和輸出高阻指令（HIGH）

1，旁路指令

把不進行測試的IC掃描鏈短接起來。一般是全1

2，取樣指令

3,預裝指令

4，外測試指令

5，內測試指令

6，執行內建自測試指令

七，正常操作

其它

1，外測試

2，測試內部邏輯

3，執行內建自測試

八，邊界掃描描述語言

又一種語言，喔