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電源完整性設計

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由於芯片工藝不斷改進,從0.35um、0.18um、0.13um到目前的40nm甚至28nm,芯片的內核電壓也在不斷降低,從3.3V、1.8V、1.5V到40nm器件的0.9V,芯片對電源的波動越來越敏感。

與SI相比,電源完整性PI是一個比較新的概念,實際上PI也屬於SI研究的範疇,它和SI之間的關系非常密切。

保持電源的完整性,就是保持電源的穩定供電。在實際系統中,要做到這一點並不容易,因為系統中總是存在著不同頻率的噪聲。

首先需要把電源分配系統與外界很好的隔離起來,電源系統與外界主要的連接途徑是電壓調整模塊,通常總是需要在電壓調整模塊的附近使用T型或者PI型濾波網絡。以放置低頻噪聲串入。同時大電容也提供了一個電荷的蓄水池,及時提供電壓調整模塊所不能供給的電流。

另外,系統內部的一些元件會產生高頻的電源噪聲,例如在數字邏輯門在翻轉的時候,瞬間會從電源平面汲取一定的電流。電流值雖然不是很大,但是速度很快,如果是電源分配系統的阻抗,電源平面不能及時提供這些電流,那麽就會在這裏產生翻轉噪聲。如果PCB去耦處理不當,這個電源噪聲就會波及整個電源地平面。

與此相類似,當信號線穿過一個過孔,切換信號的參考平面時,例如由地平面切換到電源平面,相應的會在過孔附近的電源平面和地平面之間形成一個回路電流,這個回路電流同樣會成為系統噪聲,波及整個電源分布系統。

同步開關噪聲

同步開關噪聲(SSN)是指由於多個輸出同時發生翻轉而引起的感應噪聲。

要搞清楚SSN的原理,必須從不同的層面來分析。下圖所示,電源分配系統的感抗表示,同時也把矽片到PCB電源之間的連線感抗也表示出來。

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SSN模型

從芯片級來考慮,如果多個IO同時由“1”到“0”翻轉,會在地腳上產生較大的變化電流,上圖實線箭頭部分,由於芯片電感的存在,而電感的特性是產生一個反向電動勢來抵抗電流的變化,因此在矽片內部的地平面和單板地之間將形成一定的電壓波動,這種現象又稱為地彈(ground-bounce)。

要知道PCB的地和矽片的地之間的電壓差關系,首先要分析輸出信號的電壓變化。當輸出信號由“1”翻轉到“0”時,在輸出驅動器的下拉MOS管和芯片電感上將產生一個相應的電流變化(I),這個電流滿足I=-C*(dV/dt),這裏的負號表示電流的方向(灌電流)。如下圖I的變化情況,首先由0變為最大值,然後再回到0。

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SSN產生原理

這樣的電流變化會在“芯片電感”兩端產生一個電壓的波動(V_Ldie) ,根據電感的特性,這個電壓值可以表示為V_Ldie=Ldie*(dI/dt),如上圖。

因此,在矽片地和PCB地之間就有一個V_Ldie的電壓差,假設PCB地保持不變,矽片地上就有一個相應的噪聲信號,這個噪聲信號會對輸出0的靜態信號造成影響,也有可能使得輸入信號誤采樣,如下圖,SSN對輸出低信號的影響。

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SSN對輸出低信號的影響


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作者:杭州卿萃科技ALIFPGA

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