問題描述 　　有n（2≤n≤20）塊晶片，有好有壞，已知好晶片比壞晶片多。
　　每個晶片都能用來測試其他晶片。用好晶片測試其他晶片時，能正確給出被測試晶片是好還是壞。而用壞晶片測試其他晶片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試晶片實際的好壞無關）。
　　給出所有晶片的測試結果，問哪些晶片是好晶片。 輸入格式 　　輸入資料第一行為一個整數n，表示晶片個數。
　　第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個資料為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的資料表示用第i塊晶片測試第j塊晶片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該晶片對本身的測試結果。晶片不能對本身進行測試）。 輸出格式 　　按從小到大的順序輸出所有好晶片的編號 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出

1 3

思路分析：題目中提示好晶片的數量大於壞晶片的數量，意味著當其他晶片對一個晶片進行測試時，如果該晶片為好晶片，則測試結果為 好的數量>壞的數量，反之如果該晶片為壞晶片，則測試結果為 好的數量<壞的數量。這時只需對錶中i（行）進行列遍歷，根據結果進行判斷。

package Basic;

import java.util.Scanner;

public class Basic23 {
	
	public static void main(String[] args){
		Scanner s = new Scanner(System.in);
		int n = s.nextInt();
		int[][] result = new int[n][n];//晶片測試結果result
		for(int i=0;i<n;i++)
			for(int j=0;j<n;j++)
				result[i][j] = s.nextInt();
		s.close();
		
		for(int i=0;i<n;i++){
			int count = 0;//好的晶片測試數量
			for(int j=0;j<n;j++){
				if(result[i][j] == 1){
					count++;
				}
			if(count>n/2){
				System.out.print((i+1)+" ");
			}
			}
		}
	}
}